การวิเคราะห์ความล้มเหลวของวัสดุ

ระบบการวัดการบิดเบี้ยวของพื้นผิวที่ใช้ Moiré- ที่มีความแม่นยำสูง ซึ่งวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของแสงบนพื้นผิวตัวอย่าง

GRGTEST มีโซลูชันซอฟต์แวร์และฮาร์ดแวร์ FT แบบครบวงจร-ในที่เดียว และสามารถให้บริการลูกค้าได้อย่างเต็มรูปแบบ รวมถึงการประเมินเทคโนโลยีการทดสอบ การพัฒนาโซลูชันการทดสอบ การพัฒนาฮาร์ดแวร์การทดสอบ

GRGTEST ได้สร้างความสามารถที่ครอบคลุมสำหรับการวิเคราะห์วัสดุ การวิเคราะห์ลักษณะทางกายภาพ การทดสอบประสิทธิภาพการทำงาน การตรวจสอบความน่าเชื่อถือ การวิเคราะห์ความล้มเหลว

ในการสื่อสารและศูนย์ข้อมูลสมัยใหม่ การสื่อสารด้วยไฟเบอร์ออปติกกลายเป็นสิ่งที่ขาดไม่ได้เนื่องจากมีข้อดีคือมีความเร็วสูง ความจุสูง และการส่งข้อมูลระยะไกล-

วิธีการตรวจสอบและวิเคราะห์ที่ใช้กันทั่วไปสำหรับการวิเคราะห์ความล้มเหลวของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์สามารถจำแนกได้เป็นการวิเคราะห์แบบไม่ทำลายและการวิเคราะห์แบบทำลาย

การทดสอบความต้านทานฉนวนพื้นผิว (SIR) สามารถใช้เพื่อประเมินปัญหาที่เกิดจากไฟฟ้าลัดวงจรหรือการรั่วไหลของกระแสไฟฟ้าระหว่างตัวนำโลหะ ช่วยระบุว่ามีฟลักซ์หรือสารเคมีอื่นๆ ในน้ำยาบัดกรีที่เหลืออยู่บนพื้นผิว

ด้วยการพัฒนาอย่างต่อเนื่องของวงจรรวมขนาดใหญ่ กระบวนการผลิตชิปจึงมีความซับซ้อนมากขึ้นเรื่อยๆ และโครงสร้างจุลภาคและองค์ประกอบของวัสดุเซมิคอนดักเตอร์ที่ผิดปกติขัดขวางการปรับปรุงผลผลิตของชิป

เนื่องจากพลาสติกเป็นระบบการกำหนดสูตรที่ประกอบด้วยเรซินพื้นฐานและสารเติมแต่งหลากหลายชนิด ทำให้วัตถุดิบและกระบวนการต่างๆ ควบคุมได้ยาก ส่งผลให้ในกระบวนการผลิตจริงและการใช้ผลิตภัณฑ์

ด้วยการพัฒนาอย่างรวดเร็วของการผลิตทางอุตสาหกรรม ลูกค้ามีความเข้าใจที่แตกต่างกันเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์และกระบวนการที่มีความต้องการสูง ส่งผลให้ผลิตภัณฑ์ล้มเหลวบ่อยครั้ง เช่น แตกร้าว แตกหัก กัดกร่อน

GRGT จัดทำแบบจำลองชุดสายเคเบิลสำหรับ EMC การจำลองการสนทนาข้ามสาย การจำลองภูมิคุ้มกันรังสี การจำลองการปล่อยรังสี และการวิเคราะห์การจำลองเค้าโครง